铁基分体探头测厚仪YT8200
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产品描述

基体模式铁基 探头形式分体 分辨率0.1μm 测量范围0-2000μm 测量模式基础、品管、连续、统计模式 显示屏IPS全彩屏, 1.14inch 尺寸107×50×20mm 显示单位μm/mil

产品介绍:

经济型分体铁基涂层测厚仪YT8200是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能依据磁性法快速、准确的无损检测各种涂覆在铁磁性金属基底上的各种非磁性涂层厚度。

 铁基分体探头测厚仪YT8200实际应用

铁基分体探头测厚仪YT8200测量准确、测试量程大、多种校正模式、多种测量模式、定位方便、功能强大,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业等表面工程检测领域,是涂层表面处理行业的基本装备。

 

Fe基探头可检测喷涂在各种磁性基体(比如钢铁)上的各种非磁性涂层厚度,例如铁板的油漆层、喷粉层、涂瓷层、镀铬层、镀铜层、镀锌层等。

 

经济型分体铁基涂层测厚仪YT8200特点

1、支持零点、单点、五点校正

支持多种校正方式,测试更便捷,可满足更高测试精度需求

五点校正

2、IPS纯彩屏,操作流畅,存储容量大

IPS纯彩屏

3、测量模式丰富

涂层测厚仪YT8200有基础模式、品管模式、连续模式、统计模式可供选择,适应更多测试场景

测量模式丰富

4、精确测量曲面平面

凸面半径5mm;凹面半径10mm

精确测量曲面平面

5、高灵敏探头

自主研发高灵敏探头反应速度快,测试更加准确

高灵敏探头

6、支持蓝牙,手机APP、微信小程序更多扩展功能

可即时通过蓝牙把测量数据传输到手机,进行相应的数据编辑和处理,输出测试报告。

支持蓝牙

 

铁基分体探头测厚仪YT8200技术参数

产品型号

YT8200

产品名称

经济型分体铁基涂层测厚仪

特性


YT系列涂层测厚仪是3nh公司制造的完全拥有自主知识产权的国产涂层测厚仪,能依据磁性法快速、准确的无损检测各种涂覆在铁磁性金属基底上的各种非磁性涂层厚度。
仪器测量准确、测试量程大、多种校正模式、多种测量模式、定位方便、功能强大,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业等表面工程检测领域,是涂层表面处理行业的基本装备。
Fe基探头可检测喷涂在各种磁性基体(比如钢铁)上的各种非磁性涂层厚度,例如铁板的油漆层、喷粉层、涂瓷层、镀铬层、镀铜层、镀锌层等。

符合标准

ASTM B499,ASTM D1400,ASTM D709;
ISO 2178,ISO 2360,ISO 2808;
GB/T 4956,JB/T 8393

基体模式

铁基

探头形式

分体式

定位结构

/

分辨率

1μm

测量范围

0~2000μm

测量精度

零点校正:±(3%H+1)μm;
两点校正:±(1~3%H+1.5)μm;
:H为样品厚度

显示屏

IPS全彩屏, 1.14inch

接口

Type C USB;蓝牙5.0;按键

存储数据

1000条

电池电量

锂电池,充满电单次可连续测试10000

测量模式

基础模式、品管模式、连续模式、统计模式

ZUI小测量尺寸

10×10mm

ZUI小测量厚度

磁性:0.2mm

ZUI小曲率

凸面半径5mm;凹面半径10mm

显示单位

μm/mil

尺寸

102×50×20mm(探头Ø18x69)

重量

80g

工作温度

0~40ºC(10~90%RH无凝露)

储存温度

 -10~50ºC

软件支持

微信小程序,鸿蒙,Windows,Andriod,IOS

标准附件

基体1块(铁基体),腕带,擦拭布,USB数据线,定位片,校准片

可选附件

打印机,5V-2A电源适配器

注:

校准片一套5片(厚度略有差异),技术参数仅为参考,以实际销售产品为准

 

涂层测厚仪测量影响因素:

a基体金属磁性质

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

b基体金属电性质

基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

c基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

d边缘效应

本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

e曲率

试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

f试件的变形

测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。

g表面粗糙度

基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。

g磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。

h附着物质

本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

i测头压力

测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。

j测头的取向

测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。


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